သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော အီလက်ထရွန်းနစ်ဒီဇိုင်းရေးဆွဲသည့် အင်ဂျင်နီယာများအတွက် static power control သည် အမြဲတမ်းစိန်ခေါ်မှုတစ်ရပ်ဖြစ်ခဲ့သည်။ အထူးသဖြင့် power bank များနှင့် all-in-one power bank များကဲ့သို့သော အသုံးချမှုများတွင်၊ အဓိက control IC သည် အိပ်ပျော်သွားသည့်တိုင် Capacitor leakage current သည် ဘက်ထရီစွမ်းအင်ကို ဆက်လက်စားသုံးနေဆဲဖြစ်ပြီး “no load power consumption” ဖြစ်စဉ်ကို ဖြစ်ပေါ်စေပြီး terminal ထုတ်ကုန်များ၏ ဘက်ထရီသက်တမ်းနှင့် အသုံးပြုသူစိတ်ကျေနပ်မှုကို ပြင်းထန်စွာထိခိုက်စေပါသည်။
- အရင်းခံအကြောင်းရင်း နည်းပညာဆိုင်ရာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း -
ယိုစိမ့်မှု လျှပ်စီးကြောင်း၏ အနှစ်သာရမှာ လျှပ်စစ်စက်ကွင်းတစ်ခု၏ လုပ်ဆောင်ချက်အောက်တွင် capacitive မီဒီယာ၏ သေးငယ်သော လျှပ်ကူးနိုင်စွမ်း အပြုအမူဖြစ်သည်။ ၎င်း၏ အရွယ်အစားကို electrolyte ဖွဲ့စည်းမှု၊ electrode interface အခြေအနေနှင့် packaging လုပ်ငန်းစဉ်ကဲ့သို့သော အချက်များစွာက သက်ရောက်မှုရှိသည်။ ရိုးရာအရည် electrolytic capacitors များသည် အပူချိန်မြင့်ခြင်းနှင့် နိမ့်ခြင်းကို တစ်လှည့်စီပြောင်းလဲခြင်း သို့မဟုတ် reflow soldering ပြုလုပ်ပြီးနောက် စွမ်းဆောင်ရည် ကျဆင်းသွားတတ်ပြီး ယိုစိမ့်မှု လျှပ်စီးကြောင်း မြင့်တက်လာသည်။ solid-state capacitors များတွင် အားသာချက်များရှိသော်လည်း၊ လုပ်ငန်းစဉ်သည် ရှုပ်ထွေးမှုမရှိပါက μA အဆင့် ကန့်သတ်ချက်ကို ချိုးဖောက်ရန် ခက်ခဲနေဆဲဖြစ်သည်။
- YMIN ဖြေရှင်းချက်နှင့် လုပ်ငန်းစဉ် အားသာချက်များ -
YMIN သည် “အထူး electrolyte + တိကျသောဖွဲ့စည်းမှု” ၏ dual-track လုပ်ငန်းစဉ်ကို လက်ခံကျင့်သုံးသည်။
အီလက်ထရိုလိုက် ဖော်မြူလာ- သယ်ဆောင်သူ ရွှေ့ပြောင်းမှုကို ဟန့်တားရန် မြင့်မားသော တည်ငြိမ်မှုရှိသော အော်ဂဲနစ် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းများကို အသုံးပြုခြင်း။
အီလက်ထရုဒ်ဖွဲ့စည်းပုံ- ထိရောက်သောဧရိယာကို တိုးမြှင့်ပေးပြီး ယူနစ်လျှပ်စစ်စက်ကွင်းအစွမ်းသတ္တိကို လျှော့ချပေးသည့် အလွှာများစွာပါသော stacking ဒီဇိုင်း။
ဖွဲ့စည်းခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်- ဗို့အားအဆင့်ဆင့် မြှင့်တင်ပေးခြင်းဖြင့်၊ ဗို့အားခံနိုင်ရည်နှင့် ယိုစိမ့်မှုခံနိုင်ရည်ကို မြှင့်တင်ရန်အတွက် သိပ်သည်းသောအောက်ဆိုဒ်အလွှာကို ဖွဲ့စည်းထားသည်။ ထို့အပြင်၊ ထုတ်ကုန်သည် ပြန်လည်စီးဆင်း ဂဟေဆက်ပြီးနောက် ယိုစိမ့်မှု တည်ငြိမ်မှုကို ထိန်းသိမ်းထားနိုင်သောကြောင့် အစုလိုက်အပြုံလိုက်ထုတ်လုပ်မှုတွင် တသမတ်တည်းဖြစ်မှုပြဿနာကို ဖြေရှင်းပေးသည်။
- ဒေတာအတည်ပြုခြင်းနှင့် ယုံကြည်စိတ်ချရမှုဖော်ပြချက် -
အောက်ပါအတိုင်းဖြစ်သည်- reflow soldering မလုပ်မီနှင့် လုပ်ပြီးနောက် 270μF 25V သတ်မှတ်ချက်၏ leakage current data Contrast (leakage current unit: μA)။

ပြန်လည်စီးဆင်းမှုမတိုင်မီ စမ်းသပ်ဒေတာ

ပြန်လည်စီးဆင်းပြီးနောက် စမ်းသပ်ဒေတာ
- အသုံးချမှု အခြေအနေများနှင့် အကြံပြုထားသော မော်ဒယ်များ -

မော်ဒယ်အားလုံးသည် reflow soldering ပြုလုပ်ပြီးနောက် တည်ငြိမ်ပြီး အလိုအလျောက် SMT ထုတ်လုပ်မှုလိုင်းများအတွက် သင့်လျော်ပါသည်။
ပို့စ်တင်ချိန်: ၂၀၂၅ ခုနှစ်၊ အောက်တိုဘာလ ၁၃ ရက်